Przedmiotem wynalazku jest wielopunktowa głowica pomiarowa do pomiarów integralności warstwy komórkowej. Drugim przedmiotem wynalazku jest urządzenie do pomiarów integralności warstwy komórkowej zawierające głowicę wielopunktową. Dostępne urządzenia do pomiaru integralności komórkowej charakteryzują się niską powtarzalnością, drogimi i trudnymi w wykonaniu elektrodami, brakiem możliwości pomiarów ciągłych oraz narażeniem hodowli komórkowej na działanie czynników zewnętrznych, np. zakażeń. Proponowana głowica zawiera układ par elektrod pomiarowych skonfigurowanych do wprowadzenia do dołka hodowlanego płytki hodowlanej. Elektrody wykonane są z biologicznie obojętnego materiału dobrze przewodzącego prąd (np. srebro, złoto, tytan).

W proponowanym wynalazku obydwie elektrody wykonane są w formie pręcików wprowadzanych od góry, z głowicy, przez co zminimalizowany jest wpływ geometrii sond na jakość pomiaru. Pomiar dokonywany jest tylko przez 1 ms, co redukuje inwazyjność procesu pomiary na hodowlę komórkową 300 tysięcy razy w porównaniu do pomiaru za pomocą sygnału ciągłego. Urządzenie zapewnia powtarzalność warunków pomiarowych i spójność otrzymywanych wyników. Unikatowa konstrukcja głowicy pozwala na stosowanie ogólnodostępnych płytek z dołkami hodowlanymi, a zasilanie bateryjne może być umieszczone razem z hodowlą wewnątrz hermetycznie zamkniętego inkubatora, gdzie pomiar jest realizowany automatycznie. Ponadto urządzenie cechuje się większą szybkością (pomiary równoległe zamiast sekwencyjnych), szerszym zakresem pomiarowym, wyższą dokładnością i stabilnością pomiaru oraz niższą ceną. Urządzenie odgrywa rolę w przyspieszaniu opracowywania i testowania leków, ponadto może mieć szereg innych zastosowań, m. in. w badaniach cytotoksyczności, ocenie komórek przygotowywanych do przeszczepów czy badaniach dotyczących szczelności jelit. 

Forma ochrony: P.442747

Etap rozwoju rozwiązania: TRL 7

Zastosowanie: biotechnolgia

Kontakt z Działem Transferu Technologii:

Instytut Medycyny Doświadczalnej i Klinicznej im. M. Mossakowskiego PAN

ul. Adolfa Pawińskiego 5

02-106 Warszawa

Urszula Kowalik, e-mail: ukowalik@imdik.pan.pl

Lena Siecińska, e-mail: lsiecinska@imdik.pan.pl