Technologia może być wykorzystywana do pomiaru stopnia oczyszczenia powierzchni przed procesem nanoszenia powłok ochronnych lub dekoracyjnych bądź po ww. procesach służących do określenia jednorodności pokryć.
Patenty / Zgłoszenia patentowe Jednostki naukowe: Politechnika Łódzka
- BEZPOŚREDNI POMIAR
- NIEWIELKIE GABARYTY URZĄDZENIA
- MOŻLIWOŚĆ STOSOWANIA W CIĄGU PRODUKCYJNYM
Jedną z podstawowych cech obróbki powierzchniowej jest prawidłowo przygotowana powierzchnia. Klasyczne metody kontroli opracowania powierzchni wykorzystują głównie pomiary w trybie kontaktowym, co dodatkowo ogranicza możliwości wykonania pomiaru.
Opracowany przez zespół Instytutu Inżynierii Materiałowej optomechatroniczny sposób bieżącej kontroli jakości obróbki powierzchniowej polega na tym, że fragment powierzchni poddawanej obróbce analizowany jest bądź może być w sposób ciągły w trakcie procesu produkcyjnego.
Odbiorcą technologii mogą być przedsiębiorstwa wytwarzające bądź dostarczające aparaturę kontrolno-pomiarową do obróbki powierzchniowej.
Kontakt z Brokerem Technologii
Sekcji Transferu Technologii, Politechnika Łódzka
dr inż. Mariusz Stegliński
tel. +48 631-30-54, 693-439-116
e-mail: mariusz.steglinski@p.lodz.pl
